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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試CV測試CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測試。
產(chǎn)品分類
Semiconductor Surface Barrier-Vsb 表面勢壘
Oxide Total Charge -Qtot 氧化物總電荷
Interface Trapped Charge-Qit 界面電荷
Interface Trap Density-Dit 界面態(tài)密度
Di Spectrum:Dit vs. Vsb
Dielectric Capacitance -CD and thickness -CET 介電層電容和電學(xué)總厚度
Dielectric Leakage 介電層漏電
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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